介質(zhì)損耗測試儀也稱為抗干擾介質(zhì)損耗測試儀，采用變頻zhi電源技術(shù)，利用單片機和電子技術(shù)進行自動頻率變換、模/數(shù)轉(zhuǎn)換和數(shù)據(jù)運算，自動化，智能化，測量數(shù)據(jù)在強干擾條件下是穩(wěn)定的，但測試數(shù)據(jù)在使用中顯然是不合理的通常如下。

       在現(xiàn)場測試時，用鉤桿對產(chǎn)品進行檢測時，吊鉤須與試驗產(chǎn)品良好接觸，否則接觸件的排放會引起嚴重的數(shù)據(jù)波動，特別是在過厚的氧化層或空氣管擺動的排水管中導(dǎo)致接觸不良。

       接地不良也會引起儀表保護數(shù)據(jù)的嚴重波動，接地點的涂層應(yīng)報廢，零電阻接地。

       用端蓋法測量電磁式PT時，由水分引起的T形網(wǎng)絡(luò)干擾引起的負介電損耗可以用常規(guī)法或端壓法測量，直接測量CVT的低耦合電容會導(dǎo)致負的介電損耗，因此應(yīng)采用自激法。

       由于長期使用，容易造成試驗線隱性短路，芯線屏蔽層短路或與插頭接觸不良，用戶應(yīng)始終維護測試線。當(dāng)測試標(biāo)準(zhǔn)電容器測試產(chǎn)品時，應(yīng)使用全屏蔽插頭來消除額外雜散電容的影響，否則，介質(zhì)損耗測試儀的精度就無法反映出來。自勵方法是測量VT中的C，非高壓線路應(yīng)暫停，否則，附加的雜散電容和介質(zhì)損耗會導(dǎo)致地面測量誤差。

       使用萬用表測量測試電路是否開路，或芯線和屏蔽是否短路，輸入功率過高或過低，接地良好，使用正極或負極導(dǎo)線測量具有已知電容和介質(zhì)損耗的標(biāo)準(zhǔn)電容器或電容器樣品，如果結(jié)果正確，則可判斷儀器故障。